XXXII Congreso Internacional de la Sociedad Mexicana de Materiales

ZEISS México participó en el XXXII Congreso Internacional de la Sociedad Mexicana de Materiales, impartiendo una conferencia técnica por nuestros especialistas en microscopía electrónica y microscopía de luz acerca de “Microscopía computacional para materiales Potenciar imágenes y análisis con inteligencia artificial”, así como demostraciones en sitio de las soluciones que ofrece ZEISS para la investigación en materiales.

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