XXXI Congreso Internacional de la Sociedad Mexicana de Materiales

ZEISS México participó en el XXXI Congreso Internacional de la Sociedad Mexicana de Materiales, impartiendo una conferencia técnica de “Aplicaciones de FIB-SEM en Nanotomografía”, así como demostraciones en sitio de las soluciones que ofrece ZEISS para la investigación en materiales.

Para más información sobre nuestros productos, puede contactarnos a través de:

✉️ cic.mx@zeiss.com

☎️ 800 24 ZEISS (93477)

#IMRC #Research #Materials #Congress #ZEISS #Microscopy #Conference